• Nueva publicación: «Análisis de la degradación de módulos de silicio monocristalino tras 21 años de funcionamiento»
  • Nuevo modelo para estudiar la degradación en exterior de módulos fotovoltaicos de lámina delgada
  • Estudio de la degradación de módulos de silicio amorfo tras 11 años de exposición utilizando el procedimiento 3 de la norma IEC60891:2021